第1章 绪论

1.1光电检测技术在现代生产中的地位和作用

1.2光电尺寸检测技术的现状和新发展

第2章 激光扫描检测技术及系统

2.1激光扫描测量原理

2.2检测系统主要组成部分设计

2.2.1扫描速度分析

2.2.2扫描发射系统设计

2.2.3 激光扫描接收系统设计

2.2.4精密机械系统设计

2.2.5 电子学与微机实时数据处理系统

2.3几种特殊激光扫描检测系统设计

2.3.1双向激光扫描检测系统

2.3.2双路激光扫描检测系统

2.3.3反射式激光扫描检测技术

第3章 激光位移检测技术及系统

3.1光三角工作原理

3.1.1 位移量与光学系统参数之间的关系

3.1.2 PSD上像点位置S的确定

3.1.3 PSD与光轴的夹角关系

3.2测量系统的工作过程

3.3位移检测系统主要组成部分设计

3.3.1 位置敏感器（PSD）及光源的选择

3.3.2 PSD数据采集处理电子学系统设计

3.3.3计算机实时控制与数据处理系统设计

3.4误差因素

3.5内径激光位移检测系统设计

第4章 复色共焦检测技术及系统

4.1复色共焦检测原理

4.1.1 共焦成像的原理

4.1.2复色共焦测厚原理

4.2典型的共焦检测系统

第5章 CCD成像检测技术及系统

5.1 CCD尺寸检测原理

5.2 CCD输出信号的二值化处理

5.3线阵CCD物体尺寸测量系统

5.3.1 线阵CCD微小尺寸的检测

5.3.2 线阵CCD小尺寸的检测

5.3.3 线阵CCD大尺寸的检测

第6章 光栅位移检测及伺服控制系统

6.1光栅线位移检测系统

6.1.1 光栅位移测量的基本原理

6.1.2光栅位移检测系统设计

6.2光电轴角编码器

6.2.1 光电编码器工作原理

6.2.2编码器代码分类

6.3闭环伺服控制系统

6.3.1 闭环伺服控制系统组成

6.3.2 闭环伺服控制方法

第7章 光电多功能二维自动检测系统

7.1检测系统的总体结构

7.2同轴度误差测量

7.2.1 同轴度误差的测量方法

7.2.2实验结果与分析

7.3环距测量

7.3.1环距测量原理

7.3.2轴向截面斜角β的测量

7.3.3 环距测量实时算法

第8章 曲臂光电综合测量系统

8.1系统的组成与总体结构布局

8.1.1 系统的组成

8.1.2总体结构布局

8.2被测参数测量原理

8.2.1 直径测量原理

8.2.2径向圆跳动误差测量原理

8.2.3 花键内径定心圆柱面径向圆跳动误差测量原理

8.2.4平行度误差测量原理

第9章 激光扫描圆度误差测量系统

9.1圆度测量原理

9.2工件安装偏心误差的分离

9.3实验结果与分析

第10章 飞轮齿圈总成跳动误差非接触检测系统

10.1理论基础

10.2测量系统原理

10.3实验结果和分析

10.3.1测量精度

10.3.2测量能力指数Cg

第11章 透明材料厚度非接触检测系统

11.1反射式透明材料厚度检测系统

11.1.1反射式透明材料厚度检测原理

11.1.2反射式透明材料厚度检测系统设计

11.1.3测量结果与分析

11.2复色共焦透明材料厚度检测系统

11.2.1系统组成及原理

11.2.2共焦光学系统设计与优化

11.2.3光谱数据采集系统

11.2.4光谱数据分析系统

11.2.5实验测试和分析

第12章 基于机器视觉的远距离目标尺寸测量系统

12.1机器视觉检测方法

12.2远距离随机目标检测原理

12.3图像处理

12.4精度分析

12.5测量结果分析

第13章 光电综合测量系统误差分析

13.1误差来源及分析

13.1.1导轨误差分析

13.1.2测量线、导向线、传动线之间的相对关系误差分析

13.1.3其他误差分析

13.2各误差因素对测量结果的影响

13.2.1各误差因素对直径测量的影响

13.2.2各误差因素对径向圆跳动测量的影响

13.2.3各误差因素对平行度测量的影响

参考文献