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《Verilog高级数字系统设计技术与实例分析》_(美)KishoreMishra著;乔庐峰等译_14381536_9787121334832

【书名】:《Verilog高级数字系统设计技术与实例分析》
【作者】:(美)KishoreMishra著;乔庐峰等译
【出版社】:北京:电子工业出版社
【时间】:2018
【页数】:395
【ISBN】:9787121334832
【SS码】:14381536

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内容简介

第1章 绪论

第2章 寄存器传输语言(RTL)

第3章 可综合的Verilog——用于电路设计

3.1什么是Verilog

3.2 Verilog的发展历史

3.3 Verilog的结构

3.4硬件RTL代码的执行

3.5 Verilog模块分析

3.6 Verilog中的触发器

3.6.1带RST复位引脚的触发器

3.6.2没有复位引脚的触发器

3.7组合逻辑

3.7.1 always块语句

3.7.2 case和if-else语句

3.7 3赋值语句

3.8 Verilog操作符

3.8.1操作符描述

3.8.2操作符的执行顺序

3.8.3 Verilog中的注释

3.9可重用和模块化设计

3.9.1参数化设计

3.9.2 Verilog函数

3.9.3 Venlog中的generate结构

3.9.4 Verilog中的ifdef

3.9.5数组、多维数组

第4章 用于验证的Verilog语法

4.1 Verilog的测试平台

4.2 initial语句

4.3 Verilog系统任务

4.3.1 $finish/$stop

4.3.2 $display/$monitor

4.3.3 $time,$realtime

4.3.4 $random/$random(seed)

4.3.5 $save

4.3.6 $readmemh/$writememh

4.3.7 $fopen/$fclose

4.4任务

4.5存储器建模

4.6其他Verilog语法结构

4.6.1 while循环

4.6.2 for循环、repeat

4.6.3 force/release

4.6.4 fork/join

4.7一个简单的testbench

第5章 数字电路设计——初级篇

5.1组合逻辑门

5.1.1逻辑1和逻辑0

5.1.2真值表

5.1.3晶体管

5.1.4反相器

5.1.5与门

5.1.6或门

5.1.7与非门

5.1.8或非门

5.1.9 XOR(异或)、XNOR(异或非)

5.1.10缓冲门

5.1.11复用器

5.1.12通用逻辑门——NAND、 NOR

5.1.13复杂门电路

5.1.14噪声容限

5.1.15扇入和扇出

5.2德摩根定理

5.3通用D触发器

5.3.1 D触发器时序图

5.4建立和保持时间

5.4.1建立时间

5.4.2保持时间

5.4.3亚稳态

5.5单比特信号同步

5.5.1两个触发器构成的同步器

5.5.2信号同步规则

5.6关于时序

5.7事件/边沿检测

5.7.1同步上升沿检测

5.7.2同步下降沿检测

5.7.3同步上升/下降沿检测

5.7.4异步输入上升沿检测

5.8数值系统

5.8.1十进制数值系统

5.8.2二进制数

5.8.3十进制数到二进制数的转换

5.8.4十六进制数值系统

5.8.5十六进制数和二进制数的转换

5.9加法和减法

5.9.1行波进位加法器

5.9.2超前进位加法

5.9.3累加器

5.10乘和除

5.10.1乘以一个常数

5.10.2除以常数(2的整数次幂)

5.11计数器

5.11.1加法/减法计数器

5.11.2 LFSR(线性反馈移位寄存器)计数器

第6章 数字设计———基础模块

6.1 LFSR

6.1.1引言

6.1.2斐波那契 LFSR与伽罗瓦LFSR

6.1.3 LFSR反馈多项式

6.1.4 LFSR的用法

6.2扰码与解扰

6.2.1什么是扰码与解扰

6.2.2扰码的作用

6.2.3串行扰码器

6.2.4并行扰码器

6.2.5扰码电路设计要点

6.2.6 PCIe扰码电路

6.2.7 Verilog RTL-PCIe扰码器

6.3检错与纠错

6.3.1检错

6.3.2错误纠正

6.3.3纠错编码

6.3.4汉明码

6.3.5汉明码应用举例——DDR ECC

6.3.6 BCH编码

6.3.7里德-所罗门编码

6.3.8 LDPC编码

6.3.9卷积码

6.3.10卷积译码

6.3.11软判决与硬判决

6.4奇偶校验

6.4.1偶校验和奇校验

6.4.2奇偶校验位的生成

6.4.3奇偶校验的应用

6.5 CRC(循环冗余校验)

6.5.1 CRC介绍

6.5.2串行CRC计算

6.5.3并行CRC计算

6.5.4部分数据CRC计算

6.5.5常用CRC类型

6.6格雷编码/解码

6.6.1二进制码转换为格雷编码的通用电路

6.6.2格雷码转换为二进制码的通用电路

6.7译码器(7段数码显示实例)

6.8优先级编码

6.8.1常规编码器的Verilog代码

6.8.2优先级编码器的Verilog代码

6.9 8b/ 1 0b编码/解码

6.9.1 8b/ 1 0b编码方式

6.9.2多字节8b/ 1 0b编码

6.9.3 disparity选择8b/10b编码方案

6.10 64b/66b编码/解码

6.10.1 64b/66b编码机制

6.10.2 128b/ 130b编码机制

6.11 NRZ、NRZI编码

6.12移位寄存器与桶形移位器

6.12.1左移位与右移位

6.12.2左循环移位与右循环移位

6.12.3桶形移位器

6.13数据转换器

6.13.1由宽到窄数据转换

6.13.2由窄到宽数据转换

6.14同步技术

6.14.1使用FIFO进行的数据同步

6.14.2握手同步方式

6.14.3脉冲同步器

6.14.4相位、频率关系固定时的跨时钟域数据传输

6.14.5准同步时钟域

6.15计时(微秒、毫秒和秒)脉冲的产生

6.16波形整形电路

第7章 数字设计先进概念(第1部分)

7.1时钟

7.1.1频率和时钟周期

7.1.2不同的时钟机制

7.1.3同步时钟

7.1.4源同步时钟

7.1.5嵌入式时钟

7.1.6准同步时钟

7.1.7异步系统

7.1.8扩频时钟

7.1.9时钟抖动

7.2复位方法

7.2.1非同步复位(异步复位)

7.2.2复位同步电路

7.2.3同步复位

7.2.4异步复位和同步复位的选择

7.3吞吐率

7.3.1增加吞吐率的方法

7.3.2更高的频率

7.3.3更宽的数据通道

7.3.4流水线

7.3.5并行处理

7.3.6无序执行(乱序执行)

7.3.7高速缓存(cache)

7.3.8预读取

7.3.9多核

7.4时延

7.4.1降低时延的方法

7.5流控

7.5.1介绍

7.5.2数据转发:data valid和data ack

7.5.3基于信用的流控:PCIe

7.5.4 SATA流控机制

7.5.5吉比特以太网流控

7.5.6 TCP滑动窗流控机制

7.6流水线操作

7.6.1流水线介绍

7.6.2流水线的简单实例

7.6.3 RISC——流水线处理器

7.6.4流水线结构和并行操作

7.6.5流水线加法器

7.6.6并行加法器

7.6.7系统设计中的流水线

7.7 out-of-order执行(乱序执行)

7.7.1现代处理器:out-of-order执行

7.7.2 SATA NCQ : out-of-order执行

第8章 数字设计先进概念(第2部分)

8.1状态机

8.1.1引言

8.1.2状态机泡泡图

8.1.3状态机:推荐方式

8.1.4二进制编码的状态机

8.1.5独热码编码的状态机

8.1.6二进制编码和独热码比较

8.1.7米里型和摩尔型状态机

8.1.8子状态机

8.2 FIFO

8.2.1引言

8.2.2 FIFO操作

8.2.3同步FIFO

8.2.4同步FIFO

8.2.5异步FIFO的工作机制

8.2.6异步FIFO的实现

8.3 FIFO高级原理

8.3.1 FIFO的大小

8.3.2 FIFO的深度

8.3.3辅助数据或标签

8.3.4快照/回退操作

8.3.5直通交换和存储转发模式

8.3.6 FIFO指针复位

8.3.7不同的写入、读取数据宽度

8.3.8使用FIFO的缺点

8.3.9基于触发器或者SRAM的FIFO

8.4仲裁

8.4.1关于仲裁

8.4.2常规仲裁方案

8.4.3严格优先级轮询

8.4.4公平轮询

8.4.5公平轮询(仲裁w/o死周期)

8.4.6带权重的轮询(WRR)

8.4.7权重轮询(WRR):第二种方法

8.4.8两组轮询

8.5总线接口

8.5.1总线仲裁

8.5.2 split-transaction(分割处理)总线

8.5.3流水线式总线

8.6链表

8.7近期最少使用(LRU)算法

8.7.1 LRU的矩阵实现

8.7.2采用矩阵法实现LRU的Verilog代码

第9章 设计ASIC/SoC

9.1设计芯片——如何开展

9.2结构和微结构

9.2.1尽可能保持简单

9.2.2善于平衡

9.2.3处理好错误和异常

9.3数据路径

9.3.1数据流

9.3.2时钟

9.4控制单元

9.4.1关注边界条件

9.4.2注意细节

9.4.3多输入点

9.4.4正确理解规范

9.5其他考虑

9.5.1门数

9.5.2焊盘受限与内核受限

9.5.3时钟树和复位树

9.5.4 EEPROM、配置引脚

第10章设计经验

10.1文档

10.1.1可读性

10.1.2注释

10.1.3命名规则

10.2在编写第一行代码之前

10.2.1直到你脑海里有了蓝图才开始

10.2.2脑海中的模拟

10.3一些建议

10.3.1哪种风格——数据流或算法

10.3.2寄存器型输出

10.3.3使用状态机而不是松散的控制逻辑

10.3.4综合和仿真不匹配

10.3.5设计的模块化和参数化

10.3.6加法器、减法器的有效使用

10.4需要避免的情况

10.4.1不要形成组合逻辑环路

10.4.2避免意外生成锁存器

10.4.3不要采用基于延迟的设计

10.4.4不要对一个变量多次赋值

10.5初步完成RTL代码之后

10.5.1初步完成代码之后的回顾

10.5.2目测RTL代码

10.5.3对发现bug感到惊喜

10.6设计要面向未来使用需求

10.6.1易于实现的寄存器结构

10.6.2考虑将来需求

10.7高速设计

10.7.1使用独热码进行状态编码

10.7.2使用互斥的数据选择器而不是优先级编码器

10.7.3避免大量散乱的组合逻辑电路

10.7.4复制或克隆

10.7.5使用同步复位时要小心

10.7.6将后到的信号放在逻辑的前面

10.8 SoC设计经验

10.8.1使用双触发器同步电路

10.8.2将所有复位电路放在一起

第11章系统概念(第1部分)

11.1 PC系统结构

11.2存储器

11.2.1存储器层次结构

11.2.2 CPU使用高速缓存的方法

11.2.3 cache的架构

11.2.4 cache的组织方式

11.2.5虚拟存储器(Virtual Memory)

11.2.6动态随机访问存储器(DRAM)

11.2.7静态随机访问存储器(SRAM)

11.2.8内容可寻址存储器(CAM)

11.2.9 CAM的Verilog模型

11.2.10 ROM、PROM、EPROM和EEPROM

11.2.11闪存

11.3中断

11.3.1中断不同部分

11.3.2中断向量表

11.3.3 I/O设备产生的中断

11.3.4高级可编程中断控制器

11.3.5 INTx中断共享

11.3.6 MSI中断

11.3.7 MSI-X中断

11.3.8中断聚合

11.3.9中断产生的RTL示例

11.4 PIO(Programmed IO)模式的数据传送

11.5直接存储器访问

11.5.1什么是DMA

11.5.2第三方、第一方 DMA和RDMA

11.5.3分/集式DMA

11.5.4 DMA描述符

11.5.5环形描述符结构

11.5.6链表描述符结构

11.5.7 DMA控制器的设计

11.5.8 DMA控制器的Verilog RTL模型

第12章系统概念(第2部分)

12.1永久存储器——硬盘

12.1.1磁盘结构

12.1.2磁盘寻址

12.1.3硬盘控制器

12.1.4硬盘的类型:SATA硬盘和基于SAS的硬盘

12.1.5 RAID(独立磁盘冗余阵列)

12.2永久存储设备——固态盘

12.2.1闪存的组织

12.2.2闪存写入、擦除

12.2.3逻辑地址到物理地址的转换

12.2.4无用存储空间回收

12.2.5耗损均衡

12.2.6写放大及其缓解方法

12.2.7超量供给

12.2.8 SSD中的高速缓存

12.2.9 ECC和RAID

12.2.10闪存的一些重要指标

12.2.11 NVM总线

12.3 DDR存储器

12.3.1 DDR存储器命令

12.3.2 DDR的初始化和校准

12.3.3 DDR存储器术语

12.4软硬件协同

12.4.1设备驱动

12.4.2软件层

12.4.3 BIOS

12.4.4内核模式和用户模式

12.4.5控制/状态寄存器、RO、粘着位

第13章嵌入式系统

13.1 AMBA总线架构

13.1.1 AMBA模块图

13.1.2 AHB总线

13.1.3 AXI总线

13.2其他总线(OCP、Avalon、Wishbone和IBM Core Connect)

13.3非透明桥接

第14章ASIC/SoC的可测试性

14.1简介

14.1.1为什么测试很重要

14.1.2故障类型

14.2 ATPG

14.3扫描

14.3.1内部扫描

14.3.2边界扫描

14.3.3 IDDQ测试

14.4 SoC测试策略

14.4.1 SoC的内部结构

14.4.2可测性设计(DFT)

14.4.3 DFT设计准则

14.4.4测试层面和测试向量

第15章芯片开发流程与工具

15.1简介

15.1.1芯片设计的不同阶段

15.2前端设计过程所使用的工具

15.2.1代码分析工具

15.2.2仿真工具

15.3后端设计过程使用的工具

15.3.1综合工具

15.3.2静态定时分析及常用工具

15.3.3 SDC约束文件

15.3.4 Max Cap/Maxtrans检查

15.3.5门级仿真

15.4 tape-out和相关工具

15.4.1不同类型的tape-out

15.4.2等效性检查

15.4.3网表ECO

15.4.4 FIB操作

15.5在硅片调试

第16章功率节约技术

16.1简介

16.2功耗分析基础

16.3通过控制工作频率降低功耗

16.3.1降低频率、增大数据路径宽度

16.3.2动态频率调整

16.3.3零频率/门控时钟

16.4减少电容负载

16.5降低工作电压

16.5.1动态改变工作电压

16.5.2零操作电压

16.5.3电源阱与隔离

第17章功率管理

17.1功率管理的基础知识

17.2系统级功率管理与ACPI

17.3 CPU功率状态——C状态

17.4设备级功率管理与D状态

17.5系统、设备和链路间的关系

第18章串行总线技术

18.1串行总线结构

18.1.1串行总线的出现

18.1.2串行总线的优缺点

18.1.3串行总线结构

18.1.4串行总线时钟

18.1.5发送路径的微结构

18.1.6接收路径的微结构

18.2串行总线中的先进设计理念

18.2.1字节分割/链路聚合

18.2.2通道绑定与去偏移

18.2.3极性翻转

18.2.4线路翻转

18.2.5锁相环(PLL)

18.3串行总线的PMA层功能

18.3.1发送均衡

18.3.2接收均衡

18.3.3端接电阻

第19章串行协议(第1部分)

19.1 PCIe

19.1.1 PCIe功能特性

19.1.2 PCIe带宽

19.1.3 PCIe交换结构

19.1.4 PCIe配置空间寄存器

19.1.5 PCIe的交换机制

19.2 SATA

19.2.1引言

19.2.2 SATA架构

19.2.3 SATA的其他变种

19.3通用串行总线

19.3.1引言

19.3.2全速、高速和超高速USB

19.3.3 USB的显著功能特性

19.3.4 USB 3.0(超高速USB)

19.4雷电接口

19.4.1雷电接口介绍

19.4.2雷电接口架构

第20章串行协议(第2部分)

20.1以太网简介

20.2 OSI和以太网协议层次

20.3以太网帧格式

20.4 10 Mbps以太网

20.5快速以太网(100 Mbps)

20.6千兆位以太网( 1 Gbps)

20.7万兆位以太网( 10 Gbps)

20.8 40 G和100 G以太网

20.9以太网桥接器、交换机与路由器

附录A资源

附录B FPGA 101

附录C用于验证的测试平台(testbench)

附录D System Verilog断言(SVA)

缩略词


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bfbdbb859b54219ebe0ef11ca1dcf2c7#646e8e452bde5e5234d3f0c40979ef3e#67016556#14381536.zip