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《互换性与技术测量》_张晓红主编;陆文全,卢彬,吴自明,郑宁副主编;范世祥,施琴慧主审_14209486_9787568233552

【书名】:《互换性与技术测量》
【作者】:张晓红主编;陆文全,卢彬,吴自明,郑宁副主编;范世祥,施琴慧主审
【出版社】:北京:北京理工大学出版社
【时间】:2016
【页数】:212
【ISBN】:9787568233552
【SS码】:14209486

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内容简介

绪论

学习情境一尺寸的检测

任务1识读零件图的尺寸公差

任务2识读装配图的配合公差

任务3工件尺寸的测量

任务4光滑工件尺寸的检验

任务5尺寸公差与配合的设计

学习情境二几何误差的检测

任务1识读几何公差

任务2几何误差的测量

任务3尺寸公差与几何公差关系的识读

任务4几何公差的设计

学习情境三表面粗糙度的检测

任务1识读零件图的表面粗糙度

任务2表面粗糙度的检测

任务3表面粗糙度的选用

学习情境四锥度和角度的检测

任务1识读圆锥公差

任务2锥度和圆锥角的检测

学习情境五键连接精度的设计

任务1键连接精度的设计

学习情境六螺纹的检测

任务1识读螺纹公差

任务2螺纹的检测

学习情境七与滚动轴承配合的孔轴的精度设计

任务1与滚动轴承配合的轴颈的精度设计

学习情境八齿轮的检测

任务1识读齿轮公差

任务2齿轮的检测

参考文献


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