内容简介
第1章 模拟电路设计绪论
1.1研究模拟电路的重要性
1.2研究模拟集成电路的重要性
1.3研究CMOS模拟集成电路的重要性
1.4本书的特点
1.5电路设计的一般概念
1.5.1抽象级别
1.5.2鲁棒模拟电路设计
1.5.3符号
第2章 MOS器件物理基础
2.1基本概念
2.1.1 MOSFET开关
2.1.2 MOSFET的结构
2.1.3 MOS符号
2.2 MOS的I/V特性
2.2.1阈值电压
2.2.2 I/V特性的推导
2.3二级效应
2.4 MOS器件模型
2.4.1 MOS器件版图
2.4.2 MOS器件电容
2.4.3 MOS小信号模型
2.4.4 MOS SPICE模型
2.4.5 NMOS与PMOS器件的比较
2.4.6长沟道器件与短沟道器件的比较
附录A:用作电容器的MOS器件的特性
习题
第3章 单级放大器
3.1基本概念
3.2共源级
3.2.1采用电阻负载的共源级
3.2.2采用二极管连接的负载的共源级
3.2.3采用电流源负载的共源级
3.2.4工作在线性区的MOS为负载的共源级
3.2.5带源极负反馈的共源级
3.3源跟随器
3.4共栅级
3.5共源共栅级
3.5.1折叠式共源共栅
3.6器件模型的选择
习题
第4章 差动放大器
4.1单端与差动的工作方式
4.2基本差动对
4.2.1定性分析
4.2.2定量分析
4.3共模响应
4.4 MOS为负载的差动对
4.5吉尔伯特单元
习题
第5章 无源与有源电流镜
5.1基本电流镜
5.2共源共栅电流镜
5.3有源电流镜
5.3.1大信号分析
5.3.2小信号分析
5.3.3共模特性
习题
第6章 放大器的频率特性
6.1概述
6.1.1密勒效应
6.1.2极点与结点的关联
6.2共源极
6.3源跟随器
6.4共栅级
6.5共源共栅级
6.6差动对
附录A:密勒定理的对偶
习题
第7章 噪声
7.1噪声的统计特性
7.1.1噪声谱
7.1.2幅值分布
7.1.3相关噪声源和非相关噪声源
7.2噪声类型
7.2.1热噪声
7.2.2闪烁噪声
7.3电路中的噪声表示
7.4单级放大器中的噪声
7.4.1共源级
7.4.2共栅级
7.4.3源跟随器
7.4.4共源共栅级
7.5差动对中的噪声
7.6噪声带宽
习题
第8章 反馈
8.1概述
8.1.1反馈电路的特性
8.1.2放大器的种类
8.1.3检测和返回机制
8.2反馈结构
8.2.1电压-电压反馈
8.2.2电流-电压反馈
8.2.3电压-电流反馈
8.2.4电流-电流反馈
8.3负载的影响
8.3.1二端口网络模型
8.3.2电压-电压反馈中的负载
8.3.3电流-电压反馈中的负载
8.3.4电压-电流反馈中的负载
8.3.5电流-电流反馈中的负载
8.3.6负载影响小结
8.4反馈对噪声的影响
习题
第9章 运算放大器
9.1概述
9.1.1性能参数
9.2一级运放
9.3两级运放
9.4增益的提高
9.5性能比较
9.6共模反馈
9.7输入范围限制
9.8转换速率
9.9电源抑制
9.10运放的噪声
习题
第10章 稳定性与频率补偿
10.1概述
10.2多极点系统
10.3相位裕度
10.4频率补偿
10.5两级运放的补偿
10.5.1两级运放中的转换
10.6其它补偿技术
习题
第11章 带隙基准
11.1概述
11.2与电源无关的偏置
11.3与温度无关的基准
11.3.1负温度系数电压
11.3.2正温度系数电压
11.3.3带隙基准
11.4 PTAT电流的产生
11.5恒定Gm偏置
11.6速度与噪声问题
11.7实例分析
习题
第12章 开关电容电路
12.1概述
12.2采样开关
12.2.1 MOSFETs开关
12.2.2速度问题
12.2.3精度问题
12.2.4电荷注入抵消
12.3开关电容放大器
12.3.1单位增益采样器/缓冲器
12.3.2同相放大器
12.3.3精确乘2电路
12.4开关电容积分器
12.5开关电容共模反馈
习题
第13章 非线性与不匹配
13.1非线性
13.1.1概述
13.1.2差动电路的非线性
13.1.3负反馈对非线性的影响
13.1.4电容器的非线性
13.1.5线性化技术
13.2不匹配
13.2.1失调消除技术
13.2.2用失调消除来降低噪声
13.2.3 CMRR的另一种定义
习题
第14章 振荡器
14.1概述
14.2环形振荡器
14.3 LC振荡器
14.3.1交叉耦合振荡器
14.3.2科尔皮兹振荡器
14.3.3单端口振荡器
14.4压控振荡器
14.4.1环形振荡器调节
14.4.2 LC振荡器的调节
14.5 VCO的数学模型
习题
第15章 锁相环
15.1简单的锁相环
15.1.1鉴相器
15.1.2基本的PLL结构
15.1.3简单锁相环的动态特性
15.2电荷泵锁相环
15.2.1锁定捕获的问题
15.2.2鉴相/鉴频器和电荷泵
15.2.3基本的电荷泵锁相环
15.3锁相环中的非理想效应
15.3.1 PFD/CP的非理想性
15.3.2锁相环中的抖动现象
15.4延迟锁相环
15.5应用
15.5.1频率倍增和合成
15.5.2歪斜的减小
15.5.3抖动的减小
习题
第16章 短沟道效应与器件模型
16.1按比例缩小理论
16.2短沟道效应
16.2.1阈值电压的变化
16.2.2垂直电场引起的迁移率退化
16.2.3速度饱和
16.2.4热载流子效应
16.2.5漏-源电压引起的输出阻抗的变化
16.3 MOS器件模型
16.3.1 Level 1模型
16.3.2 Level 2模型
16.3.3 Level 3模型
16.3.4 BSIM系列模型
16.3.5其它模型
16.3.6电荷和电容模型
16.3.7温度特性
16.4工艺角
16.5数字世界中的模拟设计
习题
第17章 CMOS工艺技术
17.1概述
17.2晶片工艺
17.3光刻
17.4氧化
17.5离子注入
17.6淀积与刻蚀
17.7器件制造
17.7.1有源器件
17.7.2无源器件
17.7.3互连
17.8闩锁效应
习题
第18章 版图与封装
18.1版图概述
18.1.1设计规则
18.1.2天线效应
18.2模拟电路的版图技术
18.2.1叉指晶体管
18.2.2对称性
18.2.3参考源的分布
18.2.4无源器件
18.2.5连线
18.2.6焊盘与静电放电保护
18.3衬底耦合
18.4封装
习题
英中词汇对照