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内容简介
第1章 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.3.1 参数修正的顺序
1.3.2 精修的数值判据
1.3.3 精修的图示判断
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
1.5.1 修正晶体结构
1.5.2 相变研究和点阵常数测定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1 菜单栏
2.3.2 选项卡界面
2.3.3 EXPGUI帮助内容
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1 精修前的准备工作
3.1.1 衍射数据的测定
3.1.2 衍射数据的转换
3.1.3 初始结构的获取
3.2 EXPGUI精修简单示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修过程
3.2.3 常见问题
3.3 精修结果提取与绘图
3.3.1 精修结果提取
3.3.2 精修图谱绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习
4.1 仪器参数文件的建立
4.1.1 基本知识
4.1.2 操作过程
4.2 物相（含非晶）定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射数据测试
4.2.3 精修过程
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用
4.3.1 问题描述
4.3.2 精修过程
参考文献
