目录

第一章 绪言

§1.1电子线路与计算机

§1.2大规模集成电路计算机辅助设计

§1.3本书内容概述

第二章 集成电路基础知识

§2.1双极型集成电路基础

一、双极型晶体管

二、晶体管－晶体管逻辑集成电路TTL

三、发射极耦合逻辑电路ECL

四、集成注入逻辑电路（I2L）

§2.2MOS型集成电路基础

一、MOS晶体管

二、MOS晶体管电路

§2.3集成电路制造工艺

二、氧化

一、外延

三、光刻

四、扩散

五、低压化学气相淀积

六、蒸发

§2.4版图设计规则

一、TTL电路版图实例

二、MOS集成电路的版图设计

§2.5小结

第三章 双极型数字大规模集成电路

§3.1存贮器

一、随机存贮器（RAM）工作原理和工作方式

二、只读存贮器（ROM）工作原理和线路

三、存贮器的工艺和版图

§3.2位片系统

一、AMD2901ALU／寄存器芯片

二、AMD2910定序器

三、AMD2930程序控制单元

四、AMD2925时钟发生器和驱动器

§3.3定制及半定制电路

一、可编程逻辑阵列的结构

二、可编程逻辑阵列的使用

三、门阵列电路

§3.4小结

第四章 MOS大规模集成电路

§4.1晶体管组合法和积木式单元法

§4.2门阵列法

§4.3保护电路

§4.4MOS存贮器

一、MOS随机存贮器的存贮单元

二、存贮器实例

三、只读存贮器

§4.58位单片微处理器8080A

一、总体结构

二、寄存器阵列

三、算术逻辑单元

四、指令寄存器和指令译码器

五、定时控制部件

§4.616位单片微处理器8086

一、8086的逻辑设计

二、8086的电路设计

三、8086的版图安排

§4.7小结

一、双极型D/A转换器原理

第五章 线性大规模集成电路

§5.1双极型D/A转换器

二、双极型差动放大器

三、12位D/A转换器AD562

§5.2双极型A/D转换器

一、双极型A/D转换器原理

二、12位逐次近似A/D转换器AD572

一、线性MOS大规模集成电路中的元件

§5.3MOS转换器

二、并行式MOSD/A转换器

三、MOSA/D转换器

§5.4小结

第六章 设计自动化技术

§6.1设计自动化的范围

§6.2逻辑设计自动化

一、逻辑模拟

二、逻辑元件模型的建立

三、逻辑图的输入

四、逻辑模拟算法

五、逻辑描述语言

§6.3版图设计自动化

一、版图图形编辑软件

二、符号布图法

三、自动布局、布线设计方法

§6.4小结

§7.2测试的种类

第七章 大规模集成电路测试技术

§7.1测试技术的一般情况

一、直流特性测试

二、交流特性测试

三、逻辑功能测试

§7.3随机存贮器的功能测试

一、简单组合图形测试法

二、N2类测试图形

三、N1.5类测试图形

四、下雨测试法

§7.4逻辑型大规模集成电路的测试方法

一、实装测试法

二、比较测试法

三、测试图形存贮法

四、实时测试图形生成法

一、组合电路使用的算法

§7.5测试图形生成法

二、时序电路使用的算法

§7.6对微处理器的测试

§7.7抽象执行图描述和功能结构兼测法

一、微处理器的功能描述

二、故障模型的建立

三、数据处理部分的测试方法

§7.8大规模集成电路测试仪

一、TALICEMAN9240的组成

二、TALICEMAN9240的软件系统

§7.9小结

第八章 集成电路的可靠性

§8.1可靠性概述

一、可靠性基本概念

二、可靠性分析的主次图和因果图

三、概率统计在集成电路可靠性工作中的作用

一、电路设计时的考虑

§8.2集成电路的可靠性设计

二、结构设计时的考虑

§8.3集成电路的质量保证

一、概述

二、筛选试验

三、可靠性试验

四、抽样检验与批允许不合格率

五、制造工艺的管理

§8.4集成电路的失效分析

一、集成电路的失效模式

二、PN结和表面退化

三、互连线的失效

四、键合不良

五、树脂模塑型集成电路的失效

§8.5小结

参考文献