目录

第一部分原理和电路

第一章晶体管特性图示仪的原理

一、图示仪的基本原理

二、图示仪的基本方框图

第二章 阶梯波电压产生电路

第一节 泵式阶梯波电压产生电路

一、DD型泵式阶梯波电路

二、DT型泵式阶梯波电路

三、TT型泵式阶梯波电路

第二节 数模转换式（D/A）阶梯波电路

一、权电阻网络式的数模转换

二、T型网络式的数模转换

第三章JT-1型晶体管特性图示仪及其电路分析

第一节JT-1型图示仪的系统组成和技术性能

第二节 基极阶梯波电路

一、阻容移相器

二、脉冲形成电路

三、阶梯波电压产生电路

四、阶梯波放大电路

第三节集电极扫描电源

一、集电极扫描电源的工作原理

二、容性电流的中和问题

第四节 显示电路

一、X轴和Y轴放大器

二、测试转换开关和X轴输入的设计问题

三、高频高压电源和示波管控制电路

第五节 主电源供给电路

第六节JT-1型图示仪的调整

一、电源等的调整

二、Y轴作用的调整

三、X轴作用的调整

四、基极阶梯信号的调整

五、集电极扫描信号的调整

第四章其他型式图示仪的电路介绍

第一节JT-1型图示仪的改进

一、被测晶体管的功耗问题

二、基极的脉冲阶梯波和间歇三角波

三、容性电流的进一步讨论

第二节 一些新型图示仪介绍

一、QT-2型图示仪的特点

二、带微处理机的数字式图示仪

第三节 简易图示仪电路举例

一、晶体管简易图示仪电路

二、集成电路的简易图示仪

一、JT-1面板上的各开关旋钮的作用

第一节 JT-1型图示仪的使用

第五章晶体管的测试

第二部分使 用

二、JT-1型图示仪的操作方法

三、JT-1型图示仪使用时注意事项

第二节 晶体管正常工作的特性曲线及其测试

一、晶体管的特性及其参数

二、晶体管的测试方法

三、常见的晶体管特性不良的现象

第三节 晶体管反常工作的特性曲线及其测试

一、晶体管反常工作的特性

二、晶体管雪崩击穿特性的测试方法和应用举例

三、晶体管双向工作特性的测试方法

第六章场效应晶体管的测试

第一节 场效应管的特性及其参数

第二节 场效应管的测试

一、场效应管的测试方法

二、常见的场效应管特性不良的现象

第一节二极管的测试

一、二极管的特性及其参数

第七章二极管和电阻的测试

二、二极管的测试方法

第二节稳压管的测试

一、稳压管的特性及其参数

二、稳压管的测试方法

三、常见的稳压管特性不良的现象

四、氖管的测试

第三节隧道二极管的测试

一、隧道二极管的特性及其参数

二、隧道二极管的测试方法

第四节 电阻的测试

第一节 单结晶体管的测试

一、单结晶体管的特性及其参数

第八章特种半导体管的测试

二、单结晶体管的测试方法

第二节 可控硅的测试

一、可控硅的特性及其参数

二、可控硅的测试方法

第三节 光电耦合器的测试

一、光电耦合器的特性和应用举例

二、光电耦合器的测试方法

第九章数字集成电路的测试

第一节 数字集成电路概述

一、TTL与非门电路的特性及其参数

第二节TTL与非门电路的测试

二、TTL与非门电路的测试方法

三、HTL与非门电路的特性与测试

第三节 ECL集成门电路的测试

一、ECL集成电路的特性及其参数

二、ECL集成门电路的测试方法

第四节MOS集成门电路的测试

一、MOS集成门电路的特性及其参数

二、MOS集成门电路的测试方法

第十章模拟集成电路的测试

第一节 模拟集成电路概述

第二节 集成运算放大器的测试

一、集成运算放大器的特性及其参数

二、特性参数的测试原理

三、测试方法和测试结果讨论

四、测试和使用的注意事项

第三节 集成电压比较器的测试

一、集成电压比较器的特点

二、集成电压比较器的测试

第四节 集成稳压器的测试

一、集成稳压器的主要参数

二、集成稳压器的测试方法

第十一章组合管和电路特性的测试

第一节 组合管特性的测试

一、晶体管达林顿型组合管的测试

二、晶体管恒流保护特性的测试

二、晶体管互补开关特性的测试

四、隧道二极管串接特性的测试

五、光电耦合器与晶体管组合的负阻电路的测试

第二节 电路特性的测试与研究

一、射极跟随器和OCL电路特性的测试

二、晶体管稳压器过流保护特性的测试

三、晶体管施密特电路滞后特性的测试

四、集成施密特电路特性的测试

附录一 JT-1型图示仪的电原理图和元件分布图

附录二JT-1型图示仪的常见故障与维修

附录三JT-3型图示仪的原理与使用