第一章 电子测量的自动化

第二章 自动测试用计算机

2-1 概述

2-2 微型计算机工作原理

2-3 微型计算机系统中央处理器

2-4 MCS-80微型计算机基本指令

2-5 半导体存贮器

2-6 微型计算机接口芯片

2-7 微型计算机系统举例

2-8 HP-9825A可编程台式计算机简介

附录Ⅰ MC6800微型机指令系统

第三章 自动测试用计算机软件

3-1 概述

3-2 微型计算机程序设计

3-3 微型计算机的监控程序（MONITOR）

3-4 微处理器研制系统简介

3-5 测试用BASIC语言的扩充

3-6 ATLAS语言简介

附录Ⅱ ASCII码表

第四章 标准接口系统

4-1 概述

4-2 HP-IB标准接口系统的性能和母线结构

4-3 接口功能及其子集

4-4 三线连锁挂钩过程

4-5 远地消息编码

4-6 接口功能的状态图

4-7 接口功能的逻辑设计

4-8 状态图的实现

4-9 CAMAC标准接口系统

附录Ⅲ 接口功能子集表

第五章 测量仪器的程控化

5-1 概述

5-2 程控仪器的寻址

5-3 遥控和本控的切换

5-4 装置消息的编码格式

5-5 程控命令的编码格式

5-6 测量数据的编码格式

5-7 测量数据的输出方式

5-8 状态字节（状态数据）的编码格式

5-9 程控仪器的响应时间

第六章 采用微处理器的自动测试仪器

6-1 概述

一、最早的智能仪器举例——HP1722A/B示波器

二、采用4位微处理器的早期智能仪器举例——DANA9000系列微处理器计时器／计数器

三、采用8位微处理器的智能仪器举例——HP3745A/B型选择电平测量装置介绍

四、采用两个微处理器的智能仪器举例——HP3455A数字电压表介绍

五、智能仪器结构上和功能、性能上的特点的小结

6-2 带微处理器的仪器的设计和研制问题

一、带微处理器的仪器设计和研制的基本方法与步骤简介

二、采用微处理器的仪器设计（练习）举例

6-3 Solartron 7055/7065型微处理器电压表

一、概述

二、7065（7055）电压表模拟部分简介

三、关于程序与键盘使用的说明

四、数字部分的说明

五、程序和接口选用件的简单介绍

结束语

第七章 自动测试系统

7-1 概述

一、第一代自动测试系统

二、第二代自动测试系统

三、第三代自动测试系统

7-2 大规模集成电路测试系统

一、概述

二、大规模集成电路测试系统举例之一

三、大规模集成电路测试系统举例之二

7-3 典型自动测试系统举例——HP8507A/B自动网络分析仪

一、网络分析与网络分析仪

二、射频自动网络分析仪8507A/B概述

三、HP8505A网络分析仪

四、8503A等测试装置

五、8507A/B的接口与程控问题

第八章 自动测试设备的故障诊断

8-1 一般电子仪器的故障诊断技术简介

8-2 自动测试仪器的故障诊断技术与使用的基本检测装置

8-3 自动测试系统的故障诊断简介

结束语