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《集成电路芯片测试》_王芳,徐振主编;曹昕鸷,陈沉,梅鲁海,彭勇副主编_13526177_9787308129763

【书名】:《集成电路芯片测试》
【作者】:王芳,徐振主编;曹昕鸷,陈沉,梅鲁海,彭勇副主编
【出版社】:杭州:浙江大学出版社
【时间】:2014
【页数】:183
【ISBN】:9787308129763
【SS码】:13526177

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内容简介

管理篇

第1章 员工行为规范

1.1 道德规范及礼仪

1.2 员工职务行为准则

第2章 质量与环境体系要求

2.1 5S管理

2.2 ISO9001:2000质量管理体系知识

2.3 ISO14001:2004环境管理体系要求

第3章 净化车间防静电管理要求

3.1 静电

3.2 如何在电子行业有效地防止静电

3.3 电路测试的防静电措施

基础篇

第4章 C语句基础知识

4.1 C语言的数据类型、运算符和表达式

4.2 C语言程序的语句

4.3 C语言的数组

4.4 C语言的函数

4.5 SC6122测试程序简介

第5章 常用电子元器件及常用测试仪器

5.1 常用电子元器件

5.2 芯片测试常用传感器

5.3 常用测试仪器

封装篇

第6章 集成电路生产制造流程

6.1 集成电路流片工艺流程

6.2 集成电路封装工艺流程

6.3 集成电路测试流程

测试篇

第7章 LK8810数模集成电路测试系统介绍

7.1 LK8810数模集成电路测试系统硬件

7.2 软件说明

7.3 硬件说明

第8章 LK2150AT自动分选机系统介绍

8.1 绪论

8.2 IC自动分选机性能

8.3 人机界面操作说明

8.4 电气线路说明

8.5 日常维护保养说明

第9章 集成电路测试实例

9.1 遥控产品测试实现

9.2 风扇产品测试实现

9.3 电话机产品测试实现

9.4 显示产品测试实现

9.5 电表产品测试实现

参考文献


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