绪论

第一节测试的新领域

目 录

第二节数据域测试的基本方法

第三节计算机辅助测试

第四节可测性和内测试

第五节数据域测试仪器

参考文献

一、数字系统测试的必要性和复杂性

第一章数据域测试的基本概念

第一节数字系统及其测试

二、故障与测试

三、测试矢量的产生

四、测试响应的观察

五、复杂系统的测试

第二节穷举测试法

一、单输出无扇出电路

二、带汇聚扇出的单输出电路

三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路

第三节故障表方法

一、固定式列表计划侦查

二、固定计划定位

三、适应性计划侦查和定位

本章习题

第二章组合逻辑电路的测试

第一节通路敏化

一、敏化通路

二、通路敏化法

三、一维敏化的问题

四、树形电路

五、二维敏化

第二节d算法

一、d算法的基础知识

二、d算法的基本步骤

三、d算法举例

第三节扩展d算法

一、基本概念

二、扩展d算法

三、举例

第四节布尔差分法

一、基本概念

二、布尔差分及其运算特点

三、求布尔差分的方法

四、单故障的测试

五、多重故障的测试

六、产生测试的算法

一、等效范式

第五节等效范式（ENF）法

二、文字变量的敏化和测试的寻求

三、ENF法的特点

四、寻求最理想测试集的启发式方法

本章习题

第三章时序逻辑电路的测试

第一节迭接电路法

一、基本思想

二、故障的侦查

三、故障的定位

第二节状态变迁检查法

一、初始状态的识别和区分序列

二、终止状态识别以及复原和同步序列

三、用状态识别法来识别机器

四、状态变迁检查法

第三节逻辑电路的时滞测试

一、时滞测试的基本概念

二、时滞测试的实现方法

本章习题

第一节存贮器的测试

第四章微机系统的测试

一、RAM中的故障类型

二、测试的若干原则性考虑

三、存贮器测试方法

四、方法的比较

五、测试的实施

第二节微处理器的测试

一、裸μP的测试

二、裸μP的算法产生测试

三、裸μP的功能性测试的一般方法

一、基本概念

第三节利用被测系统的应用程序进行测试

二、应用程序的模型化

三、关系图

四、测试的组织

五、通路测试的算法

第四节利用总线观察进行测试

本章习题

一、概述

第一节计算机辅助测试的基本概念

第五章数字系统的计算机辅助测试

二、CAT的结构模型

三、测试算法

四、逻辑和功能描述语言

五、数据库

六、输出

第二节d算法程序

一、DALG-Ⅱ程序

二、实用中的具体问题

一、系统结构

第三节扩展d算法程序

二、LISP语言的特点

三、SXMS测试码自动生成系统

四、SXMDIAG故障测试系统

五、应用举例

第四节微处理器测试产生程序

一、基本思想

二、RTL语言简介

三、测试码的生成

本章习题

四、实例

第六章可测性设计

第一节可测性的测度

一、基本定义

二、标准单元的可测性分析

三、可控性和可观测性的计算

第二节可测性设计方法

一、可测性的改善设计

二、结构可测性设计

三、其他可测性设计简介

一、Reed-Muller展开式

第三节组合电路的异或门串联结构

二、异或门串联电路结构测试分析

第四节内测试设计

一、多位线性反馈移位寄存器

二、伪随机数发生器

三、特征分析器

四、内测试电路设计

本章习题

一、逻辑笔

第一节简易逻辑测试仪

第七章数据域测试仪器

二、逻辑脉冲发生器

三、电流故障检寻器

第二节特征分析仪

一、特征分析仪的基本原理

二、特征分析仪的故障侦出率

三、特征分析仪的基本结构

四、特征分析仪的工作

五、“特征”设计

第三节逻辑分析仪

一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标

二、逻辑分析仪的基本结构

三、数据捕获

四、数据显示

五、应用

第四节GP-IB母线分析仪

一、概述

二、母线分析仪的作用和功能

四、国产母线分析仪举例

三、母线分析仪的内部组织

第五节开发系统

一、概述

二、开发系统的功能和基本结构

三、仿真器

四、简易开发系统

五、通用开发系统

六、HP64000逻辑开发系统简介

本章习题

参考文献