第一章 逻辑电路测试的一般概念

第一节 逻辑电路及其测试

第二节 故障

第三节 穷举测试法

第四节 故障模型

参考文献

习题

第二章 组合电路的测试产生

第一节 布尔差分法

第二节 D算法

第三节 分支判决法

第四节 随机测试产生

第五节 多故障诊断

参考文献

习题

第三章 测试的响应分析

第一节 故障模拟和响应存贮法

第二节 比较法

第三节 响应的压缩

第四节 特征分析器

参考文献

习题

第四章 时序电路的测试

第一节 检查实验

第二节 时序电路的迭代阵列模型

第三节 时滞测试

第四节 随机访问存贮器（RAM）的测试

参考文献

习题

第五章 可测试性设计

第一节 可测试性的测度

第二节 可测试性设计的特定方法

第三节 级敏扫描设计（LSSD）

第四节 其他可测试性设计

第五节 内测试

第六节 自治测试

参考文献

习题

第六章 微处理器的测试

第一节 微处理器的测试及可测试性设计

第二节 包含微处理器的数字系统的功能故障模型

第三节 给定功能故障的测试产生

第四节 微处理器的测试生成程序

参考文献

第七章 可编程序逻辑陈列的测试

第一节 PLA的结构

第二节 PLA故障模型

第三节 PLA的可测试性设计

参考文献

附录