目录

第一章 数字电路实验方法概述

§1-1实验方案

§1-2故障排除

实验一 仪器使用

第二章 集成逻辑门

§2-1TTL逻辑门

§2-2CMOS逻辑门

§2-3集电极开路（OC）逻辑门及三态输出（TSL）逻辑门

实验二 逻辑门的参数测试

实验三 门电路的逻辑变换

实验四 集电极开路（OC）、三态输出（TSL）逻辑门的应用

第三章 集成触发器及其应用

§3-1TTL触发器

§3-2CMOS触发器

§3-3触发器应用举例

实验五 维持阻塞D触发器

实验六 触发器的脉冲工作特性

实验七 触发器的应用

第四章 集成逻辑功能器件

§4-1全加器

§4-2多路分配器和数据选择器

§4-3计数器和分频器

§4-4移位寄存器

§4-5脉冲顺序分配器

实验八 二－十进制全加器

实验九 译码器和多路分配器

实验十 时序电路设计

实验十一 计数器的应用

实验十二 数据选择器及其应用

实验十三 四位双向移位寄存器

实验十四 脉冲顺序分配器

实验十五 四位串行累加器

§5-1组合电路

第五章 数字电路的可靠性试验

§5-2同步时序电路

§5-3异步时序电路

实验十六 组合电路的险象及其消除

实验十七 同步时序电路

实验十八 同步时序电路的设计和试验

实验十九 异步时序电路的竞争现象

实验二十 异步时序电路的冒险现象

第六章 数－模和模－数转换

§6-1电子模拟开关

§6-2取样－保持电路

§6-3模－数转换器（ADC）

实验二十一 CMOS双向开关和取样－保持电路

实验二十二 数－模转换

实验二十三 模－数转换

第七章 脉冲电路

§7-1半导体二极管及晶体管的开关特性

§7-2微分、积分电路和限幅、钳位电路

§7-3锯齿电压发生器

§7-4张弛振荡器

实验二十四 半导体二极管及晶体管的开关特性

实验二十五 限幅电路和钳位电路

实验二十六 锯齿电压发生器

实验二十七 多谐振荡器

实验二十八 单稳态触发器

实验二十九 用555电路组成张弛振荡器

附录Ⅰ常用仪器的原理及使用方法

§Ⅰ-1JD-802803型数字逻辑电路试验仪

§Ⅰ-2SR8二踪示波器

§Ⅰ-3XG-2C型脉冲信号发生器

§Ⅰ-4E312型电子计数式频率计

§Ⅰ-5逻辑笔

附录Ⅱ部分常用数字集成电路汇编

参考书目