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《电子显微镜技术》_(日)坂田茂雄著;那宝魁,张永权译_10127805_7502400893

【书名】:《电子显微镜技术》
【作者】:(日)坂田茂雄著;那宝魁,张永权译
【出版社】:北京:冶金工业出版社
【时间】:1988
【页数】:197
【ISBN】:7502400893
【SS码】:10127805

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内容简介

目 录

第1章基本概念

1.1电子射线的波长和分辨率

光学显微镜的分辨率

电子显微镜的分辨率

1.2电磁式电子透镜

电磁式电子透镜原理

实用电子透镜的构造

1.3几何光学图的描述方法

透镜的几何光学图的基础

电镜几何光学图的变化

1.4透镜的象差及其消除方法

第2章电子显微镜的构造和维护

2.1照明系统

电子枪

会聚透镜

摇摆原理

2.2试样室

对试样室要求的条件

实用试样室的构造

2.3成象系统透镜

物镜

中间镜和选区光阑

高分辨衍射试样室

2.4观察与记录

低衬度试样的照相技术

金属薄膜试样的照相技术

2.5真空系统

电镜中所必须达到的真空度

真空故障及其排除方法

2.6对中调整方法

电子枪的对中调整

会聚透镜的对中调整

物镜的电流中心

象差的校正

第3章通用的制样技术

3.1试样的支持膜

火棉胶支持膜

高倍观察用的微栅

3.2粉末分散法

撒落法

浆糊法

溶胶、凝胶分散法

喷雾法

3.3真空蒸发法

蒸发法

阴影溅射法

复型法

粉末复型法

萃取复型法

3.4金属薄膜制取法

切片与减薄

化学减薄

双面溅射减薄法

第4章电镜成象的衬度

4.1散射衬度

4.2衍射衬度

4.3相位衬度

几何光学

第5章选区电子衍射方法

5.1选区电子衍射的几何光学

装置的设定和操作方法

旋转角的校正

选区电子衍射法的精度

5.2晶体学基础(概要)

周期结构和衍射现象

面间距的计算

消光规律

晶面角

晶体学符号

单晶衍射花样的计算

5.3电子衍射图的计算

德拜-谢乐环的计算

5.4利用单晶衍射花样鉴定物质

单晶衍射花样的注释条件

定性分析实例

5.5利用电子计算机标定指数

程序概要

计算程序

第6章 能量色散谱仪(EDX)分析法

6.1能量色散谱仪信号的定量分析

薄膜试样的厚度和X射线强度

微粒试样的X射线强度

6.2分析精度

薄膜厚度的测量精度

微粒重量的测量精度

6.3利用能量色散谱仪进行定量分析的方法

第7章动态观察法

7.1多用途试样室的构造

7.2各种试样夹持器

7.3防止氧化、脱碳的措施

7.4动态观察实例

参考书目

附录:面指数和面间距表


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