1绪论

1.1实验在科学发展中的重要作用

1.2实验方法的选择

参考文献

2核磁共振（NMR）谱学

2.1概述

2.2基本原理

2.3实验方法和新技术

2.4 NMR在材料科学中的应用

参考文献

3正电子湮没技术（PAT）

3.1 PAT的基础知识

3.2实验方法

3.3正电子湮没技术的应用

3.4正电子素

3.5结束语

参考文献

4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM）

4.1场离子显微术原理

4.2原子探针（AP）

4.3AP-FIM的应用

参考文献

5卢瑟福背散射谱学

5.1实验方法及基本设备

5.2基本原理

5.3背散射谱的分析方法

5.4沟道效应

5.5应用举例

5.6总结

参考文献

6二次离子质谱学

6.1基本物理过程

6.2基本装置及实验方法

6.3 SIMS分析实例

6.4 SIMS方法的特点和局限性

参考文献

7俄歇电子能谱学

7.1基本原理

7.2基本装置与实验方法

7.3应用实例

参考文献

8 X射线光电子能谱学

8.1基本原理

8.2基本装置

8.3 XPS谱

8.4分析方法

8.5应用

8.6 XPS与SIMS、AES的特点对比

参考文献

9中子活化分析

9.1概述

9.2中子活化分析的基本原理

9.3核蜕变和辐射的探测

9.4中子活化方法一般应用及实例

9.5活化技术在材料物理中的应用

参考文献

10扰动角关联

10.1扰动角关联技术

10.2扰动角关联在材料研究中的应用

10.3结束语

参考文献

11 X射线吸收精细结构（XAFS）谱

11.1 XAFS原理

11.2 XAFS理论

11.3 XAFS实验

11.4 XAFS数据分析方法

11.5 XAFS误差分析和国际规范

11.6 XAFS应用及发展

参考文献

12中子散射技术

12.1概述

12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护

12.3中子散射的基本原理与方法

12.4中子散射的基本实验设备简述

12.5中子散射的应用

参考文献

13核反应分析及质子荧光X射线分析

13.1核反应分析基本原理

13.2核反应分析技术

13.3核反应分析应用举例

13.4核反应分析的特点

13.5质子X射线荧光分析基本原理

13.6 PIXE分析技术

13.7 PIXE的应用

13.8 PIXE分析的特点

参考文献

14分析电子显微镜技术

14.1概述

14.2分析电子显微镜基本原理

14.3 X射线能谱分析（XEDS）

14.4电子能量损失谱分析的原理和应用

14.5微区电子衍射

参考文献

15激光和同步辐射技术

15.1激光测试技术

15.2同步辐射技术

参考文献

16穆斯堡尔谱学

16.1原理

16.2实验方法及数据处理

16.3超精细相互作用

16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用

参考文献

17扫描隧道显微镜（STM）

17.1概述

17.2 STM原理及基本理论

17.3 STM系统简介

17.4实验方法

17.5 STM的应用

参考文献

附录一

附录二

附录三

编者通讯录