目录

序言

常用符号及对照表

第一章　数字集成电路

1.1 数字集成电路的逻辑门

1.2半导体存储器

1.3微处理器电路

1.4 矩阵式LSI

小结

第二章集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法

2.1 概述

2.2集成电路的静态参数

2.3 集成电路的动态参数

2.4 集成电路功能参数的检验

小结

3.1 概述

第三章集成电路的功能检验

3.2 功能检验的方法

3.3 RAM算法功能测试的构成方法

3.4 只读存储器的功能检验特点

3.5 构成任意逻辑的数字集成电路的功能测试方法

3.6 与代码标准相比较进行LSI的功能检验

小结

4.1组成和特性

第四章 数字集成电路静态参数的检测设备

4.2程控电压源和程控电流源

4.3 电压和电流的测量变换器

4.4 测量电源——电压和电流变换器

4.5 转换器

4.6联结设备

4.7检测设备电磁兼容性的保证

4.8确定技术特性的方法去

小结

5.1 集成电路测试仪的构成原理

第五章集成电路动态参数的检测设备

5.2 高速集成电路动态测量参数的误差

5.3 集成电路测试仪测量传输通道中脉冲信号失真的分析

5.4 集成电路输出信号的分析

5.5 集成电路输出信号的失真分析

5.6 集成电路测试仪的可控信号源

5.7 采用取样变换法的集成电路测试仪的构成电路

5.8检验系统

小结

第六章 集成电路的功能检验装置

6.1按与标准相比较的方法构成的功能检验装置

6.2采用信号算法生成的功能检验装置的构成

6.3对LSI进行功能检验和参数检验的通用集成电路测试仪

6.4 引出线电路单元

6.5研究用的功能检验仪器

小结

7.1 检验系统程序保证的演进

第七章检验系统的程序保证

7.2低集成度集成电路的检验装置

7.3 多工位集成电路测试仪的程序保证

7.4带有计算机的检验系统的程序保证

7.5 由具有磁盘操作系统的计算机控制的复杂检验

系统的程序保证

7.6有两级控制的分布式检验系统

7.7 描述检验过程的语言

小结

第八章　生产中使用的集成电路检测系统

8.1 概述

8.2 生产中使用的多工位集成电路测试仪

8.3 计算机在集成电路测试仪中的应用

8.4 集成电路测试仪生产率的估算

小结

结束语

参考文献