第一章 可测试结构化逻辑

1．1简介

1．2电平敏感设计

1．3无冒险触发器

1．4设计结构

1．5设计规则的优越性

1．6价格/性能影响

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第二章 存贮阵列中的应用

2．1简介

2．2埋层阵列（Burried Arrays）的设计结构

2．3测试埋层阵列

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第三章 锁存器设计

3．1简介

3．2影响触发器设计的因素

3．3触发器设计问题

3．4“电气”无冒险触发器

3．5另外的触发器设计法

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第四章 系统建立和现场服务

4．1概述

4．2利用LSSD结构

小结

5．1简介

5．2假设和推导

第五章 故障率和故障覆盖率

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第六章 VLSI测试的发展趋势

6．1简介

6．2微处理器Ⅰ

6．3微处理器Ⅱ

6．4微处理器Ⅲ

6．5 VLSI测试问题

6．6测试选择项

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第七章 随机模式

7．1概述

7．2随机模式的应用

7．4优化策略

7．3在PLA中应用随机模式

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第八章 PLA的测试模式生成器

8．1测试目标和故障假定

8．2测试生成过程

8．3特别的结束程序

8．4故障模型化的要点

8．5结果

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第九章 特征分析寄存器和屏蔽错误

9．1简介

9．2推导屏蔽边界

9．3定义和符号

9．4代数描述推导的屏蔽错误边界

9．5屏蔽和马尔可夫链

9．6马尔可夫链分析

9．7特征分析测试的长度下限

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第十章 随机模式自测

10．1一种RP自测结构

10．2随机自测模式的覆盖率

10．3为RP的可测试性而修改电路

10．4修改大型“与”网络

10．5 PLA电路的一和RP可测试设计

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11．1简介

11．2一个随机模式测试系统

第十一章 随机模式测试系统

11．3 LSSD随机模式应用方法

11．4错误模拟结果

11．5一个随机模式测试器

11．6测试实验结果

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第十二章 固定错误模拟

12．1简介

12．2组合错误模拟方法

12．3基准设计的模拟结果

12．4 PPSFP模拟到LSSD网络的扩展

12．5随机模式测试

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13．1简介

13．2过渡错误的定义

第十三章 延迟错误模拟

13．3过渡错误等价类

13．4过渡错误模拟方法

13．5基准设计的模拟结果

13．6扩展到扫描结构化设计

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第十四章 加权随机模式

14．1简介

14．2动机

14．3 WRP模式应用序列

14．4初始权产生

14．5建立一个完全WRP测试的方法

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15．2基准设计的固定错误覆盖率

15．3非定型错误

第十五章 WRP错误覆盖率

15．1简介

15．4过渡和桥接错误模拟

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第十六章 故障诊断

16．1简介

16．2由错误模拟执行诊断

16．3错误表产生

16．4与故障有关的错误

16．5论断方法

16．6随机模式故障诊断

16．7论断实验

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