目录

上篇　X射线衍射分析技术

第一章 X射线的产生和性质

第一节 X射线的本质

第二节 X射线的产生

第三节 X射线谱

第四节 X射线与物质的相互作用

第五节 X射线的探测与防护

第二章 晶体学基础

第一节 晶体结构和空间点阵

第二节 晶体对称的基本概念

第三节 晶面与晶向指数

第四节 晶面间距、晶面夹角和晶带

第五节 晶体投影

第三章 X射线衍射的几何原理

第一节 布拉格定律

第二节 倒易点阵

第三节 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解

第四章 X射线衍射线束的强度

第一节 一个电子对X射线的散射

第二节 一个原子对X射线的散射

第三节 单胞对X射线的散射

第四节 一个小晶体对X射线的散射

第五节 一个小晶体衍射的积分强度

第六节 粉末多晶体衍射的积分强度

第七节 消光效应对衍射强度的影响

第五章 多晶体衍射的照相方法

第一节 粉末法成相原理

第二节 德拜-谢乐法

第三节 衍射花样的指数化

第四节 辐射的选择

第五节 晶体单色器

第六节 聚焦照相法

第七节 平面底片照相法

第八节 高温和低温照相技术

第六章 X射线衍射仪法

第一节 测角仪的工作原理

第二节 X射线探测器的工作原理

第三节 辐射测量中的主要电子电路

第四节 计数测量方法和实验参数的选择

第五节 衍射线束的强度

第七章 劳厄法及晶体取向测定

第一节 劳厄实验方法的一般介绍

第二节 劳厄法成相原理和对衍射斑点分布规律的解释

第三节 劳厄衍射花样指数化

第四节 晶体取向的测定

第八章 点阵常数的精确测定

第一节 一般介绍

第二节 德拜-谢乐法中系统误差的来源

第三节 德拜-谢乐法的误差校正方法

第四节 衍射仪精确测定点阵常数

第九章 X射线物相分析

第一节 物相定性分析

第二节 物相定量分析

第十章 宏观内应力的测定

第一节 一般介绍

第二节 宏观内应力的测定原理

第三节 宏观内应力的测量方法

第十一章 织构的测定

第一节 冷拉金属丝织构的测定

第二节 冷轧板织构极图的测定——照相法

第三节 冷轧板织构极图的测定——衍射仪法

第四节 极图的分析

第十二章 荧光分析

第一节 基本原理

第二节 晶体色散仪和分光晶体

第三节 荧光X射线定量分析

下篇 电子显微分析技术

第十三章 电镜的结构与成象

第一节 光学显微镜的局限性

第二节 电子的波长

第三节 电子透镜

第四节 电子透镜缺陷和理论分辨距离

第五节 电子透镜的场深和焦深

第六节 电镜的主要结构

第七节 电镜的常规成象与放大倍率的选择

第八节 高分辨衍射和反射衍射

第九节 立体显微术

第十节 洛仑兹显微术

第十一节 分析电镜

第十四章 试样制备

第一节 粉末试样膜

第二节 复型

第三节 金属薄膜

第十五章 电镜中的电子衍射

第一节 电子衍射花样形成几何

第二节 简单电子衍射花样指数标定

第三节 复杂电子衍射花样指数标定

第五节 电子衍射花样的应用

第四节 衍射花样指数标定的不唯一性

第十六章 电镜显微图象解释

第一节 复型象（质厚衬度象）

第二节 衍衬象

第三节 相位象

第十七章 扫描电子显微术

第一节 结构原理

第二节 分辨率和放大倍率

第三节 工作方式

第四节 形貌象解释

第五节 成分分析

第六节 晶体学分析

第十八章 X射线显微分析和俄歇能谱分析

第一节 X射线显微分析技术

第二节 表面探针

1．元素的物理性质

附录

2．K系标识谱线的波长、吸收限和激发电压

3．元素的质量衰减系数

4．原子散射因子

5．伦兹-偏振因子（？）

6．德拜-瓦洛温度因子

7．吸收因子

8．立方晶系晶面（或晶向）间的夹角

9．用衍射仪测定板织构时的透射法衍射强度校正因数表

10．抛光减薄规范

11．供制备萃取复型用的金属试样的电解抛光和腐蚀规范

12．常见合金相、夹杂物的晶体学数据

13．标准衍射图谱

14．立方晶系电子衍射花样平行四边形表

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