1数据换系统基础

1.1数据转换有关概念及指标

1.1.1量化与量化误差

1.1.2单极性转换代码

1.1.3双极性转换代码

1.2数据转换系统

1.2.1模拟量及其量化

1.2.2采样过程

1.2.3采样定理

1.2.4采样信号的恢复

1.2.5A/D、D/A转换器发展趋势

1.3数据转换系统的结构原理

1.3.1数据采集系统的基本结构

1.3.2数据分配系统的基本结构

1.3.3数据转换系统的控制结构原理

2接口技术基础

2.1CPU的典型I/O时序分析

2.1.18088/8086CPU的引脚功能及典型时序

2.1.2MCS-51系列单片机的引脚功能及典型时序

2.1.3数字信号处理器TMS320C2XX/C54X的引脚功能及典型时序

2.2计算机总线接口扩展原理

2.2.1输入输出的端口组织方式

2.2.2计算机接口扩展的总线设计

2.3CPU与I/O之间的信息交换方式

2.3.1信息分类

2.3.2信息交换方式

3数／模转换器及其与微处理器的接口设计

3.1　数／模转换器的一般工作原理

3.1.1权电阻解码网D/A转换原理

3.1.2R-2R梯形电阻解码网D/A转换原理

3.1.3变形权电阻解码网D/A转换原理

3.1.4 2nR电阻分压器与树状开关阵解码网D/A转换原理

3.2集成化数／模转换器及接口技术

3.2.1集成DAC系列芯片的结构特征

3.2.2集成DAC与CPU间的接口设计原理

3.2.3 8位D/A转换器DAC0832及接口设计

3.2.4 12位D/A转换器AD7541及其接口设计

3.3.1 D/A转换器的输入输出特性

3.3D/A转换器的主要性能指标

3.3.2 D/A转换器的静态指标

3.3.3 D/A转换器的动态指标

3.3.4受环境和工作条件影响的技术指标

3.4数／模转换器在计算机测控技术中的应用

3.4.1单极性D/A转换器扩展成双极性DAC应用

3.4.2数控增益放大器

3.4.3数控电压源

3.4.4用D/A转换器组成算术运算器简介

3.4.5数控波形发生器

3.4.6数字式模拟信号延迟电路原理

4模／数转换器及其与微处理器的接口设计

4.1逐次逼近式模／数转换器及接口设计

4.1.1逐次逼近式A/D转换器的工作原理

4.1.2 8位ADC0808/0809A/D转换器及其接口设计

4.1.3 MAX191低功耗12位A/D转换器及其接口设计

4.2积分式A/D转换器及其接口设计

4.2.1双积分式A/D转换器基本工作原理

4.2.2双积分式A/D转换的特点

4.2.3 12位双积分式A/D转换器ICL7109及其接口设计

4.3电压／频率转换器及外部电路连接

4.3.1电荷平衡式V/F转换器

4.3.2 AD654型V/F转换器及其应用电路

4.3.3 V/F转换器与微处理器的接口设计

4.4其他芯片

4.5模／数转换器的特性与误差

5.1采样／保持器概述

5数据转换与接口技术中的其他常用电路

5.2采样／保持器工作原理及实用电路

5.2.1采样／保持器工作原理

5.2.2采样／保持电路的工作过程和主要参数

5.2.3集成采样／保持器及其特性

5.2.4集成采样／保持器应用举例

5.3多路模拟开关及其应用

5.3.1机械触点式开关

5.3.2电子模拟开关

5.3.3单片集成多路模拟开关

5.3.4集成多路模拟开关的接口设计

5.4实用基准电源

5.4.1齐纳二极管基准源

5.4.2带隙基准源

5.4.3 2.5V系列基准源

5.4.4 1.2V系列基准源

5.4.5其他集成基准源

5.5低功耗电路

5.6集成数据转换系统介绍

6数据转换应用系统举例

6.1多路温度巡检系统

6.2高速多通道电量数据采集系统

6.3PCI总线标准下A/D、D/A接口卡设计

7数据转换电路的一些主要生产厂家及其产品

7.1模拟器件（ADI）公司及其产品

7.2得州仪器（TI）公司及其产品

7.3摩托罗拉（Motolora）公司及其产品

7.4美信（Maxim）公司及其产品

7.5布尔－布朗（Burr-Prown）公司及其产品

8教学实验系统介绍

8.1实验系统构成

8.2实验项目介绍

8.3实验指导书

8.3.1实验系统及原理图分析

8.3.2AD7541实验

8.3.3MAX191实验

8.3.4ICL7109实验

8.3.5AD654实验

8.3.6综合设计

附录

参考文献