第一章计算机故障的症状分析

1.1实例分析

1.2排除（故障的）过程

1.3典型的个人计算机系统

1.4诊断显示

1.5追踪信号至显示屏

1.6症状库

第二章 最新测试设备

2.1伏—欧—毫安表（VOM）万用表

2.2 V OM检测数字信号的方式

2.3逻辑笔（LP）

2.4 T V维修示波器

2.5连续测试

2.6逻辑脉冲发生器

2.7电流故障检测器

2.8频率计算器

2.9多路示波器

2.10专门的故障检测

第三章 分解和拆装计算机

3.1外围设备

3.2更换电路板

3.3风格各异的计算机

3.4逐步拆卸

3.5打开计算机

3.6关于热

3.7关于静电

3.8装机前的检查

3.9不要丢下任何部分

第四章 常见症状和维修

4.1维修中的两种技能

4.2接口

4.3键盘（Key boards）

4.4配有插件的芯片

4.5容易烧坏的元器件

4.6内装磁盘驱动器

4.7关于电源的只言片语

第五章 芯片定位指南

5.1板级的更换

5.2芯片的维修

5.3理想的芯片位置指南图

5.4操作中位置指南图的运用

5.5画出你自己的指南图

5.6方块图

5.7结构图

第六章 大型多引脚芯片的测试

6.1微电路的入口接近

6.2处理机

6.3数位和字节组成字

6.4数位和字节系列

6.5例程与执行周期

6.6其它指令

6.7 1/O芯片

6.8输入

6.9输出

6.10串行与并行

6.11接口适配器

6.12异步接口适配器

6.13视频显示发生器

6.14字符指针

6.15标准视频发生器

第七章 检查少引脚数芯片

7.1 TTL芯片

7.2 MOS芯片

7.3数字电路元件

7.4布尔元件

7.5缓冲器

7.6反相器

7.7与门

7.8或门

7.9与非门

7.10或非门

7.11异或门

7.12异或非门

7.13使用非与门

7.14可替换的符号

7.15作为单元的门电路

7.16翻转器

7.17寄存器

7.18多路转换器

7.19译码器

7.20计算器

7.21四位二进制计数器

7.22 74LS93四位二进制计数器

7.23移位寄存器

7.24 8位串行移位寄存器

7.25各种芯片的测试

第八章 集成电路存贮器

8.1存储字节

8.2动态触发器

8.3动态二进制空间

8.4 1K及静态RAM芯片

8.5 4K静态RAM

8.6 2114L芯片的应用

8.7 16K字节的动态RAM

8.8 4116矩阵

8.9读写时间

8.10 4116，4164和41256动态随机存取存储器（DRAM）

8.11芯片框图手册

8.12动态工作时序

8.13刷新时序

8.14只读存储芯片

8.15 ROM引脚的连接

8.16 ROM存储块图

8.17 ROM时序

8.18 SIMMS（单列存储器组件）

8.19可擦除可编程只读存储器（EPROM）

第九章 故障手册技术

9.1为你的计算机配备MFD

9.2不同的包装法

9.3输入和输出

9.4输入考虑事项

9.5输出考虑事项

9.6 PEEK和POKE检查（取数和存储检查）

9.7 PEEK和POKE的局限

第十章使用诊断程序

10.1计算机系统的四个级别

10.2从硬件到应用

10.3关于POST的更详细介绍

10.4独立诊断程序

10.5硬盘测试

10.6诊断结果

10.7处理器问题

10.8 ROM问题

10.9 RAM问题

10.10 RAM快速测试

10.11长 RAM测试

10.12视频输出测试

10.13视频音频芯片

10.14 I/0测试

10.15计算机自检

10.16诊断适配器卡

10.17其它诊断方法

第十一章 最新的芯片更换技术及脱焊设备

11.1加热和空吸法

11.2更换通孔芯片

11.3在表面安装元件的更换

11.4最新专用的SMD技术

11.5线路板的更换

11.6静电的影响

第十二章 一个典型个人计算机的框图

12.1一个简单的计算机框图

12.2增加的输出

12.3.IBM及兼容机

12.4编码键盘

12.5关于反电压变动的问题

第十三章时钟

13.1定时

13.2双相时钟

13.3单相时钟

13.4 Z—80的操作码预取

13.5 Z—80的数据传送

13.6处理器背景知识